产品应用案例

①光学座标系统为基点测量产品的任意二维尺寸。 ②探针座标系统为基点测量产品的三维空间及二维平面尺寸。 ③采用相同的座标系统，使用测头的三维测量可与影像二维混合使用或使用影像的二维平面与三维立体测量完美结合。